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高光谱成像仪

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成像光谱仪S200-MF

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成像光谱仪S200-MF

S200-MF是一种具有高光谱和空间分辨率的新一代光谱仪,可用于整个地区的商用2D(阵列)图像传感器。


由于创新的光学台和专门设计的像差校正光学,S200-MF光谱仪可以完全补偿探测器敏感区域的中心和边缘的散光。这样就可以将多束光纤连接到光谱仪的入口狭缝,同时从多个光纤获取光谱。光纤束中的zui大光纤数取决于传感器区域的高度和光纤直径。当使用6毫米高的标准传感器时,同时分析的纤维数可能达到几十条。

S-200MF有一个固定的入口狭缝,可以在有光纤的情况下工作,也可以在没有光纤的情况下工作。在将辐射直接输入光谱仪时,将分析区域的图像直接投射到入射狭缝上,探测器从该区域获得高空间分辨率的光谱信息。

S200-MF光谱仪确保在探测器中心和边缘的任何点都有完美的平坦场和高成像质量。S200-MF体积小巧,光学台长度短,仅受探测器光谱灵敏度的限制,可以实现宽光谱范围的同步成像。

S200-MF也可用于在光学显微镜下从样品的线性切片中获得光谱图像。当XY扫描阶段在显微镜中移动被分析的物体时,可以获得二维高光谱图像。


特点:

  • 整个焦平面的理想散光补偿;

  • 从两个到几十个光纤的同步光谱成像;

  • 集成ccd阵列和多通道光谱学定制软件;

  • 与探测器同步的嵌入式机械快门,用于处理连续信号;

  • 完美的高光谱成像系统



S200-MF:采用8根光纤在250-600nm光谱范围内采集Hg灯光谱。


SPECTROMETER MODELS200-MF
Spectral range200÷1100 nm
Focal length191 mm
Aperture ratio1 : 8.5
Entrance slit (one to choose)Fixed width: 20, 30, 50 or 100 µm
Spectral resolutionDepends on selected diffraction grating (see table below)
CCD-detector modelS10140-1109
Number of pixels2068 x 512
Number of active pixels2048 x 506
Pixel size12 x 12 µm
Active area size24.576 x 6.072 mm
Maximum spectral response600 nm
Maximum quantum efficiency>90 %
Non-uniformity of spectral response (1)±3 %
Anti-blooming (2)Yes
ADC16 bit, 250 kHz
Mean-square reading noise, ADC counts< 12
Dynamic range~ 5 400 : 1
Exposure time8,3 ms — 3 s (3)
Frame processing time in the binning mode9,39 ms