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  麻豆影视在线  产品信息 光学检测设备 膜厚测量仪 MProbe 20 HC手持式膜厚测量仪(弯曲表面)

膜厚测量仪

膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)Mprobe 20 台式膜厚测量仪MProbe 20 HC手持式膜厚测量仪(弯曲表面)激光干涉膜厚测量仪半导体/薄膜无损检测仪多波长椭偏仪/膜厚测量仪MPROBE 40 -MSP:小点薄膜厚度测量仪MPROBE 50 INSITU – 实时薄膜厚度测量仪MPROBE 60 薄膜厚度测量系统(精确定位测量)MPROBE 70 – 在线厚度测量 显示全部
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MProbe 20 HC手持式膜厚测量仪(弯曲表面)

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弯曲表面薄膜厚度测量仪


 

 

 

 MProbeHC 基于MProbe 20 平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度,

MProbe 20 具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。它还使用手动探针代替样品台。手动探头通过光纤电缆连接到测量单元。这为在任何位置的弯曲和大表面上测量厚度提供了灵活性。一些应用实例包括:抗紫外线和头灯,保险杠,尾灯盖的硬涂层,防雾涂层上的透镜和其他表面在汽车制造在眼镜镜片上进行加工和镀膜。标准手动探头用于测量 20mm 或更大的零件。可以使用定制探头测量小至 10mm 区域的涂层厚度。对于较小或圆形/圆柱形零件的厚度测量,我们推荐MProbe 40 MSP系统

 

MPROBE HC测量特点:

1.支持底漆或界面 (IPL)

2.曲面和/或大型零件的厚度测量

3.可以测量有色产品,校正背面反射;

4.材料:500多种扩展材料数据库;

5.一键可靠测量。

 


 

 

  

规格指标:

精度

0.01nm0.01%

准确度

0.2%1nm

稳定性

0.02nm0.03%

聚焦点尺寸

0.2mm0.4mm

样品尺寸

>20mm

厚度范围

0.05-70um

波长范围

400-1000nm


*可根据要求设计定制探头


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