麻豆影视在线


  麻豆影视在线  产品信息 光学检测设备 膜厚测量仪 MPROBE 60-薄膜厚度测量系统(精确定位测量)

膜厚测量仪

膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)Mprobe 20-台式膜厚测量仪MProbe 20 HC-手持式膜厚测量仪(弯曲表面)MPROBE 40 MSP-小点薄膜厚度测量仪MPROBE 50 INSITU-实时薄膜厚度测量仪MPROBE 60-薄膜厚度测量系统(精确定位测量)MPROBE 70-在线厚度测量激光干涉膜厚测量仪多波长椭偏仪/膜厚测量仪半导体/薄膜无损检测仪 显示全部
dow.png

MPROBE 60-薄膜厚度测量系统(精确定位测量)

  • MPROBE 60-薄膜厚度测量系统(精确定位测量)
  • 微信好友

  • QQ好友

  • QQ空间

  • 新浪微博

MPROBE 60 薄膜厚度测量系统(精确定位测量)


 


MProbe 60 是一站式系统,专为研发中心和小型制造而设计。它结合了测量厚度/n&k 与自动化小点测量的能力。MProbe 60 已应用于研发纳米技术中心。可以快速可靠地测量 1 nm2 mm的厚度,包括多层薄膜堆叠。不同的MProbe 60 型号主要受光谱仪的波长范围和分辨率影响,进而决定了可测量的厚度范围。

 

MPROBE 60的优势:

1.具有灵活和模块化的映射自动化的一站式系统

2.无与伦比的精度 <0.01nm 或 0.01%

3.500+ 扩展材料数据库

4.软件:用户友好且功能丰富的 TFCompanion 软件甚至可以处理zui复杂的应用程序。层数没有限制,支持背面反射、表面粗糙度、暗度等等。集成的相机和成像软件允许精确定位测量位置并直接在图像上显示结果

 

选型列表:

MProbe 60

波长范围

厚度范围

VISLX

400nm -1000nm

10nm – 75μm

UVVisSR

200nm-1000nm

1nm-75μm

UVVisF

200nm-900nm

1nm – 5μm

VISHR

700nm -1100nm

1μm – 400μm

NIR

900nm-1700nm

50nm -100μm

VISNIR